LCE

 

Português English
Laboratório de Caracterização Estrutural
DEMa / UFSCar
Microscopia Eletrônica e Difração de Raios X

FAPESP - EMU

 

Difratômetro de raios X com detector rápido e alinhamento automático
(Processo 2016/14068-4)
A infraestrutura do LCE é reconhecida como uma das mais completas do Brasil na área de caracterização estrutural e microestrutural, disponibilizando técnicas avançadas para diversos tipos de caracterização. A difração de raios X é uma técnica que contribui para o desenvolvimento de diversos sistemas, metálicos, cerâmicos, poliméricos, compósitos e vítreos, com um caráter claramente multi-usuário. O difratômetro de raios X com detector rápido e alinhamento automático possibilita analise qualitativa de fases e aquisição de dados para refinamento através de técnica de Rietiveld.
Plano de gestão do uso do EMU (Processo 2016/14068-4)
 
ASTAR - Mapeamento e orientação cristalográfica automática de fases em TEM
(Processo 2013/05987-8)
O ASTAR é um sistema ultra rápido podendo realizar uma aquisição entre 5 a 10 min em uma área de 5x5 microns (500x500 pontos) com a camera CCD dedicada. Quando combinado com o sistema de precessão permite a obtenção de mapas de orientação e de fases com extrema precisão. Quando combinado com o microscópio eletrônico de transmissão (TECNAI G2 F20 - FEG, com resolução de 1,5 A), o sistema ASTAR também pode ser muito útil para caracterizar micrografias obtidas em alta resolução e gerar mapas de orientação.É um sistema tipicamente multi-usuário pois também, devido ao equipamento/método ser baseado em um MET, ele permite aplicações para qualquer tipo de materiais que gerem difração, em qualquer simetria cristalina, incluindo metais, cerâmicas, semicondutores. Não existe equipamento similar no estado de SP o que abrirá uma perspectiva de utilização de diversas instituições de pesquisa.
Para mais informações sobre as características técnicas do sistema ASTAR, por favor acesse:
http://www.nanomegas.com/Articulos/Nanomegas/Products_Tem_orientation_imaging.html
Plano de gestão do uso do EMU (Processo 2013/05987-8)
 
Microscópio eletrônico de varredura de resolução sub-nanométrica e microscópio de varredura de sonda (Processo 09/53929-1)
Aquisição de dois modernos equipamentos multiusuários; um microscópio eletrônico de varredura de resolução sub-nanométrica (0,8 nm a 15kV e 0,9 nm a 1 kV) e um completo microscópio de varredura de sondas; a serem incorporados à infraestrutura do Laboratório de Caracterização estrutural, LCE, do Departamento de Engenharia de Materiais da UFSCar, complementando e modernizando sua capacitação para análise micro, nano e sub-nano estrutural de todos os tipos de materiais. Neste contexto, o projeto contribui para o desenvolvimento e caracterização nano-estrutural por microscopia eletrônica de varredura de ultra-alta resolução e por microscopia de sondas, de diversos sistemas, metálicos, cerâmicos, poliméricos, compósitos e vítreos, todos contendo como característica comum a presença de fases nanométricas que determinam as propriedades específicas de interesse em cada sistema. Em todos os casos, a elevada resolução espacial que somente os microscópios eletrônicos e os de sonda possuem juntamente com a análise química em regiões e fases nanométricas, são características de enorme relevância para auxiliar na caracterização e no projeto das rotas de processamento mais adequadas para obtenção de materiais nano-estruturados.
 
 


   

 
© 2011 - LCE - DEMa / UFSCar - Todos os direitos reservados.